GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
作者:标准资料网 时间:2024-04-29 04:31:30 浏览:8011
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基本信息
标准名称: | 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路) |
英文名称: | Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits) |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路 |
ICS分类: | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
发布日期: | 2003-11-24 |
实施日期: | 2004-08-01 |
首发日期: | 2003-11-24 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 信息产业部(电子) |
提出单位: | 中华人民共和国信息产业部 |
归口单位: | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
起草单位: | 信息产业部第四研究所 |
起草人: | 魏华、王静 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2004-08-01 |
页数: | 16开, 页数:22, 字数:45千字 |
书号: | 155066.1-20646 |
适用范围
本部分为GB/T19403的一部分,等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1:1992《半导体器件集成电路第11部分:第1节:半导体集成电路内部目检》。
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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路 电子学 集成电路 微电子学
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